單片機開發是一件比較燒腦的工作，不僅僅需要軟件開發，還需要硬件調試。而硬件調試需要注意的細節很多，今天就為大家帶來單片機開發硬件調試方法步驟。

一、硬件靜態的調試

        (1)排除邏輯故障

        這種故障往往是由于設計和加工過程中的工藝錯誤造成的。它主要包括錯線、開路和短路。排除方法是首先仔細比較處理后的印刷板的原理圖，看看兩者是否一致。應特別注意電源系統的檢查，以防止電源短路和極性錯誤，并重點檢查系統總線(地址總線、數據總線和控制總線)是否相互短路或與其他信號線短路。如有必要，使用數字萬用表的短路測試功能可以縮短故障排除時間。

        (2)排除元器件失效

        造成這種錯誤的原因有兩個：一是元器件在購買時壞了;另一個是由于安裝錯誤而導致設備燒壞。可以檢查組件的型號、規格和安裝是否符合設計要求。在確保安裝正確后，使用替換方法消除錯誤。

        (3)排除電源故障

        通電前，務必檢查電源電壓的幅度和極性，否則容易造成集成塊損壞。通電后，檢查每個插件上的引腳電位。一般來說，首先檢查VCC和GND之間的電位。如果在5V~4.8V之間，這是正常的。如果有高壓，在線模擬器在調試時會損壞模擬器，有時會損壞應用系統中的集成塊。

        二、動態調試

        (1)動態調試是在靜態調試的基礎上進行的。在電路的輸入端添加適當的信號，并根據信號的流動順序檢測每個測試點的輸出信號。如發現異常現象，應分析原因，排除故障，然后調試，直至滿足要求。

        (2)測試過程中不能憑感覺和印象，要始終借助儀器觀察。使用示波器時，最好把示波器的信號輸入方式置于“DC”擋，通過直流耦合方式，可同時觀察被測信號的交、直流成分。

        (3)通過調試，最后檢查功能塊和各種指標(如信號振幅值、波形、相位關系、增益、輸入阻抗、輸出阻抗等)是否滿足設計要求，必要時進一步修改電路參數。

        以上就是關于單片機開發硬件調試方法步驟的全部內容分享，主要分為靜態調試和動態調試，希望能給大家帶來幫助。宇凡微提供ic晶元生產及封裝定制，作為九齊一級代理商，擁有十多年的單片機芯片應用方案設計經驗，為廣大電子產品生產商提供 MCU應用功能定制開發服務。